# Zolltarifnummer 9030.82.00: Oszilloskope, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder… > Die Zolltarifnummer 9030.82.00 steht für Oszilloskope, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen). Der Drittlandszollsatz beträgt 0 %, dazu kommt die Einfuhrumsatzsteuer. - Quelle: https://www.zolltarif-finder.de/de/zolltarifnummer/90308200 - Referenzdaten mit Stand: 2026-07-01 - Zolltarifnummer: 9030.82.00 - Drittlandszollsatz: 0 % - Anmeldefähig: nein ## Einordnung im Zolltarif - 90 OPTISCHE, FOTOGRAFISCHE ODER KINEMATOGRAFISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; MESS-, PRÜF- ODER PRÄZISIONSINSTRUMENTE, -APPARATE UND -GERÄTE; MEDIZINISCHE UND CHIRURGISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; TEILE UND ZUBEHÖR FÜR DIESE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE - 9030 Oszilloskope, Spektralanalysatoren und andere Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, ausgenommen Zähler der Position 9028; Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder zum Nachweis von Alpha-, Beta-, Gamma-, Röntgenstrahlen, kosmischen oder anderen ionisierenden Strahlen - 9030.82 zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) - 9030.82.00 Oszilloskope, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) ## Zollsätze und Präferenzen | Ursprung | Zollsatz | Grundlage | | --- | --- | --- | | Drittlandszoll | 0 % | MFN | | Färöer | 0 % | Tariff preference | | Melilla | 0 % | Tariff preference | | Besetzte palästinensische Gebiete | 0 % | Tariff preference | | Andorra | 0 % | Customs Union Duty | | Türkei | 0 % | Customs Union Duty | | San Marino | 0 % | Customs Union Duty | | Abkommen EU-Schweiz: wiedereingeführte Waren | 0 % | Tariff preference | | GSP-EBA (Sonderregelung für die am wenigsten entwickelten… | 0 % | Tariff preference | | GSP+ (eine Sonderregelung für nachhaltige Entwicklung und… | 0 % | Tariff preference | | Moldau, Republik | 0 % | Tariff preference | | Ecuador | 0 % | Tariff preference | | Vereinigtes Königreich | 0 % | Tariff preference | ## Regelungen - Dual-Use (nur indikative Korrelation, keine Einstufung): 3A502, 3B002, 3B002 ## Verbindliche Zolltarifauskünfte zu dieser Nummer - **DEBTI51579/21-1** (DE): Sogenannte digitale Testkarte, im Wesentlichen bestehend mehreren mit aktiven und passiven Bauelementen und Speicherbauelementen bestückten Platinen, welche in einem Aluminiumrahmen mit elektrischen Kontakten und Kühlschläuchen montiert sind (siehe Abbildung in der Anlage). Innerhalb eines Testsystems (nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung) für anwendungsspezifische integrierte Schaltung (ASIC) und Prozessoren dient es im Rahmen von Testverfahren dem Vergleichen von Referenzspannungswerten in Volt, um so Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit dieser Bauelemente zu erhalten. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. - **DEBTI4477/21-1** (DE): Sogenannte digitale Testkarte, im Wesentlichen bestehend aus einer mit einem Testprozessor, einem Taktgeber und weiteren aktiven und passiven Bauelementen bestückten Platine mit 64 Messkanälen und den dazugehörenden Systemanschlüssen (siehe Abbildung in der Anlage). Innerhalb des Testsystems für Halbleiterbauelemente (nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung) dient es im Rahmen von analogen und digitalen Testverfahren dem zeitunabhängigen und zeitabhängigen Messen von Spannung und Stromstärke mit einer Genauigkeit von ± 1 mV und ± 12,5 µA. Diese werden nach dem Einspeisen von sogenannten elektronischen Prüfmustern mit vorgegebenen Werten verglichen, um so Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit dieser Bauelemente zu erhalten. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. - **FR-RTC-2016-000650** (FR): Testeur destiné au contrôle de la fiabilité et la qualité de disques "wafers" et de composants électroniques en boitiers, en réalisant des mesures de grandeurs électriques (tension, courant, fréquence, délais, capacité, impédance, résistance, inductance...) et en effectuant des programmes de test. Il permet le test en production de plus de 220 contacts numériques de composants dits “mixtes” comportant sur une même surface de silicium ("wafer") des éléments numériques microprocesseurs, mémoires, logique), des éléments analogiques (amplificateurs, filtres), des éléments numériques/analogiques ("mixed-signal"), des systèmes sur un seul composant ("SOC" - System-on-a-Chip) et des systèmes à plusieurs composants ("SIP" - System-in-Package). La fonction de test est centralisée dans la tête du testeur. Il est constitué d'une tête de test à refroidissement hybride (air et liquide), de 12 à 36 emplacements universels (dans la tête de test), d'une baie principale contenant les instruments pour effectuer des fonctions de test, d'un ordinateur pour stocker les résultats sous la forme de fichiers STDF, visualiser l'information et effectuer les programmes de test et d'un manipulateur de support de la tête de test. Fréquence de test : supérieure à 12GHz. - **FR-RTC-2016-000646** (FR): Testeur destiné au contrôle de la fiabilité et la qualité de disques "wafers" et de composants électroniques en boitiers, en réalisant des mesures de grandeurs électriques (tension, courant, fréquence, délais, capacité, impédance, résistance, inductance...) et en effectuant des programmes de test. Il permet le test en production de composants dits “mixtes” comportant sur une même surface de silicium ("wafer") des éléments numériques (microprocesseurs, mémoires, logique), des éléments analogiques (amplificateurs, filtres), des éléments numériques/analogiques ("mixed-signal"), des systèmes sur un seul composant ("SOC" - System-on-a-Chip) et des systèmes à plusieurs composants ("SIP" - System-in-Package). La fonction de test est centralisée dans la tête du testeur. Il est constitué d'un châssis, d'une tête de test, d'une baie principale contenant les instruments pour effectuer les mesures, d'un ordinateur pour stocker les résultats sous la forme de fichiers STDF, visualiser l'information et effectuer les programmes de test et d'un manipulateur de support de la tête de test. Fréquence de test : de 100 à 200MHz. - **FR-RTC-2016-000649** (FR): Testeur destiné au contrôle de la fiabilité et la qualité de disques "wafers" et de composants électroniques en boitiers, en réalisant des mesures de grandeurs électriques (tension, courant, fréquence, délais, capacité, impédance, résistance, inductance...) et en effectuant des programmes de test. Il permet le test en production de composants dits “mixtes” comportant sur une même surface de silicium ("wafer") des éléments numériques (microprocesseurs, mémoires, logique), des éléments analogiques (amplificateurs, filtres), des éléments numériques/analogiques ("mixed-signal"), des systèmes sur un seul composant ("SOC" - System-on-a-Chip) et des systèmes à plusieurs composants ("SIP" - System-in-Package). La fonction de test est centralisée dans la tête du testeur. Il est constitué d'un châssis, d'une tête de test avec circuit de refroidissement par air et de 12 emplacements universels ("slots"). Il est piloté par un ordinateur (fourni avec le testeur)qui stocke les résultats sous la forme de fichiers STDF. Fréquence de test : de 100 à 200MHz. - **DE5994/17-1** (DE): Das Testsystem besteht im Wesentlichen aus einem "Mainframe Schrank" mit den Abmessungen von ca. 800 x 1050 x 1600 mm mit Spannungsversorgungseinheiten, einem Rechner (PC mit Bildschirm und Tastatur) zur Steuerung sowie weiterer Basisinstrumente und einem "Testhead" mit den Abmessungen von ca. 790 x 800 x 778 mm. Dieser ist flexibel auszurüsten mit verschiedenen Test- Modulen wie digitalen Modulen, analogen Modulen, Generator / Digitizer Modulen und HF-Modulen (nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung). Der "Testhead" (kennzeichnende Funktion) ist mit dem PC und dem "Mainframe Schrank" über Kabel verbunden und bilden somit eine funktionelle Einheit. Äußere Form: siehe Abbildung in der Anlage. Das System ist in der Lage Spannung, Stromstärke, Frequenz auch in Abhängigkeit von der Zeit zu messen, digitale Daten zu erzeugen und auszuwerten, AC-Signale zu generieren und abzutasten sowie RF-Signale zu erzeugen und auszuwerten. Das Gerät dient der Funktionsprüfung von Mikroprozessoren und -controllern, Analog- und Powerbausteinen, "Mixed Signal ICs", "System-on-chip ICs" sowie RF ICs. Dies erfolgt durch überwiegend anwenderspezifische Tests auf der Grundlage von analogen (zeitunabhängig) und digitalen (in Abhängigkeit von der Zeit) Messungen. Mit den digitalen Messungen werden die logischen Grundfunktionen der Bauelemente geprüft. Am Ende des Tests wird das Testobjekt als gut bzw. schlecht klassifiziert, d.h. die Bauelemente werden auf Fehlerfreiheit geprüft. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. - **DE703/17-1** (DE): Sog. Digitalinstrument, im Wesentlichen bestehend aus einer mit aktiven und passiven Bauelementen bestückten Platine mit vier Messkanälen und den dazugehörenden Systemanschlüssen. Äußere Form: siehe Abbildung in der Anlage. Innerhalb des Testsystems "T2000" (nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung) dient es im Rahmen von analogen und digitalen Testverfahren an Halbleiterbauelementen dem zeitunabhängigen und zeitabhängigen Messen von Spannung bis 85V. Diese werden mit vorgegebenen Werten verglichen (Soll-Ist-Vergleich), um so Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit (Logikanalyse) dieser Bauelemente zu erhalten. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. - **FR-RTC-2016-002605** (FR): Appareil de test des caractéristiques, de la fiabilité et de la qualité de composants électroniques de type disques ou dispositifs à semi-conducteurs, notamment des mémoires (Flash, RAM) et, pour certains modèles, des microcontrôleurs et processeurs. Il se compose d’une tête de test destinée à alimenter, stimuler et interfacer avec les composants testés, d’un ordinateur pour effectuer les programmes de test et visualiser les résultats, et un manipulateur de support de la tête de test permettant d’orienter celle-ci et de la faire entrer en contact avec les composants testés. Sa fréquence de fonctionnement maximale est de 400 MHz, et il dispose de 128 à 1280 canaux de digitaux. ## Anmerkungen, die diese Einreihung bestimmen ### Pos. 9030 Zu Unterposition 9030 82 00: Hierher gehören elektrische Testgeräte oder -systeme, die durch Messen oder Prüfen elektrischer Größen (z.B. Spannung, Frequenz) die Funktionsfähigkeit von Halbleiterscheiben (wafers), Chips oder anderen Halbleiterbauelementen feststellen und eventuelle Fehler (z.B. Abweichungen von vorgegebenen Werten) anzeigen. Diese Geräte oder Systeme bestehen meist aus einem Mess- und Prüfteil (mit Eingabetastatur, Programmspeicher und Datensichtgerät), der die Messung durchführt und das Ergebnis mit vorgegebenen Sollwerten vergleicht und anzeigt, einem Steuerungsteil (mit automatischer Datenverarbeitungsmaschine oder Mikroprozessoren), einem Drucker, der das Prüfungsergebnis ausdruckt und einer Vorrichtung, die die geprüften Teile nach bestimmten Istwerten sortiert und fehlerhafte Teile aussondert. … ### Pos. 9030 Zu Unterposition 9030 82: Hierher gehören auch Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Integrierten Schaltungen. ### Kapitel 90 1. Zu Kapitel 90 gehören nicht: a) Waren von der in Maschinen, Vorrichtungen oder für andere technische Zwecke verwendeten Art, aus Weichkautschuk (Position 4016), aus Leder oder rekonstituiertem Leder (Position 4204) oder aus Spinnstoffen (Position 5911) (RV E9001A00); b) Stützgürtel oder andere Stützvorrichtungen aus Spinnstoffen, deren Wirkung auf den Körperteil, der gestützt oder gehalten werden soll, sich ausschließlich aus ihrer Elastizität herleitet (z. B. … ## Unterteilungen dieser Nummer - 9030.82.00.00.0 andere Instrumente, Apparate und Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen ## Häufige Fragen ### Wofür steht die Zolltarifnummer 9030.82.00? Die Zolltarifnummer 9030.82.00 umfasst Oszilloskope, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen). Maßgeblich für die Einreihung sind Beschaffenheit, Funktion und Verwendungszweck der Ware, nicht ihre Handelsbezeichnung. ### Wie hoch ist der Zollsatz für 9030.82.00? Der Drittlandszollsatz für 9030.82.00 beträgt 0 %. Bei Ursprung in einem Land mit Präferenzabkommen kann ein niedrigerer Satz gelten, wenn ein gültiger Präferenznachweis vorliegt. ### Welcher HS-Code gehört zu 9030.82.00? Die ersten sechs Stellen bilden den HS-Code: 903082. Er gilt weltweit einheitlich, während die weiteren Stellen die EU-Kombinierte-Nomenklatur und die nationale Unterteilung abbilden. ### Wie viele Stellen hat die Zolltarifnummer 9030.82.00? 9030.82.00 hat acht Stellen und entspricht der Kombinierten Nomenklatur der EU. In der Einfuhranmeldung ist in Deutschland die elfstellige Warennummer anzugeben. ### Wo ist 9030.82.00 im Zolltarif eingeordnet? 9030.82.00 steht in dieser Hierarchie: 90 OPTISCHE, FOTOGRAFISCHE ODER KINEMATOGRAFISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; MESS-, PRÜF- ODER PRÄZISIONSINSTRUMENTE, -APPARATE UND -GERÄTE; MEDIZINISCHE UND CHIRURGISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; TEILE UND ZUBEHÖR FÜR DIESE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE > 9030 Oszilloskope, Spektralanalysatoren und andere Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, ausgenommen Zähler der Position 9028; Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder zum Nachweis von Alpha-, Beta-, Gamma-, Röntgenstrahlen, kosmischen oder anderen ionisierenden Strahlen > 903082 zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen). Die übergeordneten Positionen und die dazu gehörenden Anmerkungen bestimmen mit, ob die Einreihung trägt. ### Gibt es verbindliche Zolltarifauskünfte zu 9030.82.00? Ja. In der EBTI-Datenbank sind Entscheidungen zu 9030.82.00 erfasst, zum Beispiel DEBTI51579/21-1. Solche vZTA zeigen, welche Warenmerkmale die Zollverwaltung für die Einreihung herangezogen hat. ### Was passiert bei einer falschen Zolltarifnummer? Eine unzutreffende Nummer führt zu Nacherhebung von Zoll und Einfuhrumsatzsteuer, zu Verzögerungen bei der Abfertigung und im Wiederholungsfall zu einem Bußgeld. Wer die Einreihung dokumentiert begründet, kann sie in der Betriebsprüfung belegen. ### Ist 9030.82.00 ein Dual-Use-Gut? Die Zolltarifnummer allein entscheidet das nicht. Zu 9030.82.00 gibt es eine indikative Korrelation zu 3A502, 3B002, 3B002. Ob Ihre Ware gelistet ist, richtet sich nach ihren technischen Parametern und ist am Wortlaut der Güterliste zu prüfen. ### Ändert sich die Zolltarifnummer 9030.82.00? KN-Code 9030.82.00 ist derzeit gültig. Die Kombinierte Nomenklatur wird jährlich zum 1. Januar angepasst, deshalb sollten Stammdaten jährlich gegen den aktuellen Zolltarif geprüft werden. Herausgeber: TC21 Ventures GmbH, Berlin. Abgeleitet aus der Kombinierten Nomenklatur, TARIC und der EBTI-Datenbank. Bei Zitat bitte https://www.zolltarif-finder.de/de/zolltarifnummer/90308200 verlinken.