# Zolltarifnummer 9030.82.00.00: Oszilloskope, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder… > Die Zolltarifnummer 9030.82.00.00 steht für Oszilloskope, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen). Der Drittlandszollsatz beträgt 0 %, dazu kommt die Einfuhrumsatzsteuer. - Quelle: https://www.zolltarif-finder.de/de/zolltarifnummer/9030820000 - Referenzdaten mit Stand: 2026-07-01 - Zolltarifnummer: 9030.82.00.00 - Drittlandszollsatz: 0 % - Anmeldefähig: nein ## Einordnung im Zolltarif - 90 OPTISCHE, FOTOGRAFISCHE ODER KINEMATOGRAFISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; MESS-, PRÜF- ODER PRÄZISIONSINSTRUMENTE, -APPARATE UND -GERÄTE; MEDIZINISCHE UND CHIRURGISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; TEILE UND ZUBEHÖR FÜR DIESE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE - 9030 Oszilloskope, Spektralanalysatoren und andere Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, ausgenommen Zähler der Position 9028; Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder zum Nachweis von Alpha-, Beta-, Gamma-, Röntgenstrahlen, kosmischen oder anderen ionisierenden Strahlen - 9030.82 zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) - 9030.82.00.00 Oszilloskope, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) ## Zollsätze und Präferenzen | Ursprung | Zollsatz | Grundlage | | --- | --- | --- | | Drittlandszoll | 0 % | MFN | | Färöer | 0 % | Tariff preference | | Melilla | 0 % | Tariff preference | | Besetzte palästinensische Gebiete | 0 % | Tariff preference | | Andorra | 0 % | Customs Union Duty | | Türkei | 0 % | Customs Union Duty | | San Marino | 0 % | Customs Union Duty | | Abkommen EU-Schweiz: wiedereingeführte Waren | 0 % | Tariff preference | | GSP-EBA (Sonderregelung für die am wenigsten entwickelten… | 0 % | Tariff preference | | GSP+ (eine Sonderregelung für nachhaltige Entwicklung und… | 0 % | Tariff preference | | Moldau, Republik | 0 % | Tariff preference | | Ecuador | 0 % | Tariff preference | | Vereinigtes Königreich | 0 % | Tariff preference | ## Regelungen - Dual-Use (nur indikative Korrelation, keine Einstufung): 3A502, 3B002, 3B002 ## Verbindliche Zolltarifauskünfte zu dieser Nummer - **DEBTI4654/26-1** (DE): Sog. Messgeräte für Halbleiterscheiben (Wafers), in Form funktioneller Einheiten, im Wesentlichen jeweils bestehend aus einem Messgerät, welches über Kabel mit einem PC (teilweise mit Monitor und Drucker) zur Steuerung, Darstellung, Auswertung und Speicherung der Messwerte verbunden ist (siehe beispielhafte Abbildungen in der Anlage). Die Messgeräte setzen sich aus einem Gehäuse mit einer Aufnahmevorrichtung für die Halbleiterscheiben sowie der notwendigen Messtechnik zusammen. Sie dienen der Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes in Ohm (Schicht- oder Flächenwiderstand) der leitfähigen oder isolierenden Schichten auf Halbleiterscheiben (Wafers). Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen (Widerstand), kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)" eingereiht. - **DEBTI45304/21-1** (DE): Messgeräte für Halbleiterscheiben (Wafers) in Form funktioneller Einheiten, im Wesentlichen jeweils bestehend aus einem Messgerät, welches über Kabel mit einem PC (teilweise mit Monitor und Drucker) zur Steuerung, Darstellung, Auswertung und Speicherung der Messwerte verbunden ist (siehe beispielhafte Abbildungen in der Anlage). Die Messgeräte setzen sich aus einem Gehäuse mit einer Aufnahmevorrichtung für die Halbleiterscheiben sowie der notwendigen Messtechnik zusammen. Sie dienen der Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes in Ohm (Schicht- oder Flächenwiderstand) der leitfähigen oder isolierenden Schichten auf Halbleiterscheiben (Wafers). Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen (Widerstand), kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)" eingereiht. - **DE9539/15-1** (DE): Halbautomatisches Testsystem für sog. Wafer in Form einer kombinierten Maschine im Wesentlichen bestehend aus einem gemeinsamen Gehäuse (Abmessungen ohne Tisch ca. 82,5 x 76,2 x 36,8 cm, Gewicht 182 kg) mit einer Probenkammer mit einer Temperiervorrichtung, einer XYZ-Waferhalterung, einem optoelektronischen Mikroskop zur besseren Navigation auf dem Wafer, zwei LCD-Monitoren, Messspitzen sowie einer Mess- und Steuerelektronik (siehe Abbildung in der Anlage). Das System dient dem Messen von verschiedenen elektrischen Parametern wie Spannung in V und Stromstärke in A (kennzeichnende Haupttätigkeit) an elektronischen integrierten Schaltungen auf der Waferebene. Die Messungen können unter verschiedenen Temperaturbedingungen (-60 - 300°C) durchgeführt werden. Das System ist für Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm geeignet. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als von den Unterpositionen (HS) 9030 10 bis 9030 40 erfasst, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. - **DE21748/14-1** (DE): Digitalinstrument, im Wesentlichen bestehend aus einer mit aktiven und passiven elektronischen Bauelementen bestückten Leiterplatte mit 64 Kanälen mit einer Datenrate von bis zu 4 Gigabit pro Sekunde. Innerhalb eines modularen Testsystems für Halbleiterbauelemente (nicht Gegenstand dieser vZTA) dient es im Rahmen von analogen und digitalen Testverfahren an den Bauelementen, dem zeitunabhängigen und zeitabhängigen Messen von Spannung (-5,0 V - + 8.0 V) und Stromstärke (±20 mA, .±60 mA, ±2 mA, ±200 µA, ±20 µA, ±5 µA). Diese werden mit vorgegebenen Werten (Soll-Ist-Vergleich) verglichen, um so Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit (Logikanalyse) dieser Bauelemente zu erhalten. Über die Karte können sog. Pattern (Prüfmuster) in die Bauelemente eingespeist werden. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. - **DE12683/14-1** (DE): System zum Messen oder Prüfen von Halbleiterbauelementen, im Wesentlichen bestehend aus einer Messeinheit mit magnetischen Messsensoren und einem verfahrbaren Probenträger sowie einer Steuer- und Auswerteeinheit mit PC und Steuervorrichtung, durch elektrische Kabel verbunden (funktionelle Einheit). Das Gerät misst die magnetischen Felder von elektrisch aktiven Halbleiterbauelementen und berechnet die Stromdichte. Diese Messergebnisse dienen der Auffindung von Fertigungsfehlern in den Bauelementen. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. Abbildung: siehe Anlage - **GB123151225** (GB): HIGH PERFORMANCE FIELD PROGRAMMABLE GATE ARRAY (FPGA) BOARD USED IN THE ELECTRICAL TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICES. THE FPGA BOARD CAN ACCOMMODATE UP TO 18 MILLION APPLICATION SPECIFIC INTEGRATED CIRCUIT GATES, CUSTOMISED FOR THE SPECIFIC USE OF ELECTRICAL MEASURING AND CHECKING OF SEMICONDUCTOR DEVICES PRIOR TO MANUFACTURING. THE PRODUCT INCORPORATES FULL SYSTEM INTEGRATION AND TESTING OF ALL HARDWARE AND SOFTWARE AND ALSO ENABLES EARLY IDENTIFICATION AND ELIMINATION OF HARDWARE AND SOFTWARE BUGS AHEAD OF SILICON AVAILABILITY. - **PLPL-WIT-2013-00108** (PL): Półautomatyczna stacja typu Summit 12000B-M, służąca do pomiarów parametrów elektrycznych przyrządów półprzewodnikowych, będących w postaci gotowej struktury na "waflu" o maksymalnej średnicy 200 mm, jak również pojedynczych układów, o minimalnym wymiarze 10 x 10 mm, utrzymywanych podciśnieniowo na stoliku pomiarowym. W zależności od użytego sprzętu pomiarowego (nie będącego przedmiotem niniejszej decyzji) można przeprowadzić pomiary chrakterystyk prądowo-napięciowych, pojemnościowo-napięciowych lub częstotliwościowych diod, tranzystorów itp., zarówno w temperaturze otoczenia, jak i w zakresie temperatur od -60 do 300°C. Ze względu na bardzo małe rozmiary pojedynczej mierzonej struktury, do właściwego pozycjonowania sond pomiarowych i ustawienia "wafla", stosowany jest mikroskop optyczny z wizualizacją obrazu na monitorach. Stacja składa się z następujących elementów:stolika pomiarowego, sterownika stacji oraz systemu wizyjnego eVue, zestawu mocowania monitorów LCD, monitorów LCD 24", adaptera do mocowania mikroskopu, mikroskopu eVue-III, obiektywu Mitutoyo, pozycjonerów do montażu sond pomiarowych z mocowaniem magnetycznym, sond pomiarowych, wolframowych igieł pomiarowych (prostych i zagiętych), przewodów do podłączenia sond pomiarowych, uchwytu kart pomiarowych, stołu antywibracyjnego z zestawem wsporników do klawiatury, myszki i elementów sterowania oraz pompy podciśnieniowej. - **HUT11330032098** (HU): A termék gyújtótekercs összeszerelő gép tartozéka, amely a gyújtótekercsben lévő dióda (félvezető eszköz) polaritását ellenőrzi. Az induktivitás és ellenállás mérés (L1; R1) villamos úton mérőtűkkel történik. A mért paraméterek értékelését követően az eszköz által biztosított jelnek megfelelően az ellenőrzött gyújtótekercs a „jó” vagy a „rossz” továbbító szalagra kerül. A műszer a gyújtótekercs gyártása során az utolsó ellenőrzési műveletet (villamos mennyiségek mérését) végzi el a már összeszerelt tekercsen. ## Anmerkungen, die diese Einreihung bestimmen ### Pos. 9030 Zu Unterposition 9030 82 00: Hierher gehören elektrische Testgeräte oder -systeme, die durch Messen oder Prüfen elektrischer Größen (z.B. Spannung, Frequenz) die Funktionsfähigkeit von Halbleiterscheiben (wafers), Chips oder anderen Halbleiterbauelementen feststellen und eventuelle Fehler (z.B. Abweichungen von vorgegebenen Werten) anzeigen. Diese Geräte oder Systeme bestehen meist aus einem Mess- und Prüfteil (mit Eingabetastatur, Programmspeicher und Datensichtgerät), der die Messung durchführt und das Ergebnis mit vorgegebenen Sollwerten vergleicht und anzeigt, einem Steuerungsteil (mit automatischer Datenverarbeitungsmaschine oder Mikroprozessoren), einem Drucker, der das Prüfungsergebnis ausdruckt und einer Vorrichtung, die die geprüften Teile nach bestimmten Istwerten sortiert und fehlerhafte Teile aussondert. … ### Pos. 9030 Zu Unterposition 9030 82: Hierher gehören auch Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Integrierten Schaltungen. ### Kapitel 90 1. Zu Kapitel 90 gehören nicht: a) Waren von der in Maschinen, Vorrichtungen oder für andere technische Zwecke verwendeten Art, aus Weichkautschuk (Position 4016), aus Leder oder rekonstituiertem Leder (Position 4204) oder aus Spinnstoffen (Position 5911) (RV E9001A00); b) Stützgürtel oder andere Stützvorrichtungen aus Spinnstoffen, deren Wirkung auf den Körperteil, der gestützt oder gehalten werden soll, sich ausschließlich aus ihrer Elastizität herleitet (z. B. … ## Unterteilungen dieser Nummer - 9030.82.00.00.0 andere Instrumente, Apparate und Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen ## Häufige Fragen ### Wofür steht die Zolltarifnummer 9030.82.00.00? Die Zolltarifnummer 9030.82.00.00 umfasst Oszilloskope, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen). Maßgeblich für die Einreihung sind Beschaffenheit, Funktion und Verwendungszweck der Ware, nicht ihre Handelsbezeichnung. ### Wie hoch ist der Zollsatz für 9030.82.00.00? Der Drittlandszollsatz für 9030.82.00.00 beträgt 0 %. Bei Ursprung in einem Land mit Präferenzabkommen kann ein niedrigerer Satz gelten, wenn ein gültiger Präferenznachweis vorliegt. ### Welcher HS-Code gehört zu 9030.82.00.00? Die ersten sechs Stellen bilden den HS-Code: 903082. Er gilt weltweit einheitlich, während die weiteren Stellen die EU-Kombinierte-Nomenklatur und die nationale Unterteilung abbilden. ### Wie viele Stellen hat die Zolltarifnummer 9030.82.00.00? 9030.82.00.00 hat zehn Stellen und trägt die EU-Maßnahmen des TARIC. In der Einfuhranmeldung ist in Deutschland die elfstellige Warennummer anzugeben. ### Wo ist 9030.82.00.00 im Zolltarif eingeordnet? 9030.82.00.00 steht in dieser Hierarchie: 90 OPTISCHE, FOTOGRAFISCHE ODER KINEMATOGRAFISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; MESS-, PRÜF- ODER PRÄZISIONSINSTRUMENTE, -APPARATE UND -GERÄTE; MEDIZINISCHE UND CHIRURGISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; TEILE UND ZUBEHÖR FÜR DIESE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE > 9030 Oszilloskope, Spektralanalysatoren und andere Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, ausgenommen Zähler der Position 9028; Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder zum Nachweis von Alpha-, Beta-, Gamma-, Röntgenstrahlen, kosmischen oder anderen ionisierenden Strahlen > 903082 zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen). Die übergeordneten Positionen und die dazu gehörenden Anmerkungen bestimmen mit, ob die Einreihung trägt. ### Gibt es verbindliche Zolltarifauskünfte zu 9030.82.00.00? Ja. In der EBTI-Datenbank sind Entscheidungen zu 9030.82.00.00 erfasst, zum Beispiel DEBTI4654/26-1. Solche vZTA zeigen, welche Warenmerkmale die Zollverwaltung für die Einreihung herangezogen hat. ### Was passiert bei einer falschen Zolltarifnummer? Eine unzutreffende Nummer führt zu Nacherhebung von Zoll und Einfuhrumsatzsteuer, zu Verzögerungen bei der Abfertigung und im Wiederholungsfall zu einem Bußgeld. Wer die Einreihung dokumentiert begründet, kann sie in der Betriebsprüfung belegen. ### Ist 9030.82.00.00 ein Dual-Use-Gut? Die Zolltarifnummer allein entscheidet das nicht. Zu 9030.82.00.00 gibt es eine indikative Korrelation zu 3A502, 3B002, 3B002. Ob Ihre Ware gelistet ist, richtet sich nach ihren technischen Parametern und ist am Wortlaut der Güterliste zu prüfen. ### Ändert sich die Zolltarifnummer 9030.82.00.00? TARIC-Code 9030.82.00.00 ist derzeit gültig. Die Kombinierte Nomenklatur wird jährlich zum 1. Januar angepasst, deshalb sollten Stammdaten jährlich gegen den aktuellen Zolltarif geprüft werden. Herausgeber: TC21 Ventures GmbH, Berlin. Abgeleitet aus der Kombinierten Nomenklatur, TARIC und der EBTI-Datenbank. Bei Zitat bitte https://www.zolltarif-finder.de/de/zolltarifnummer/9030820000 verlinken.