# Customs tariff code 9030.82.00: For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated…

> Customs tariff code 9030.82.00 covers For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits). The third-country duty rate is 0 %, plus import VAT.

- Source: https://www.zolltarif-finder.de/en/customs-code/90308200
- Reference data as at: 2026-07-01
- Customs code: 9030.82.00
- Third-country duty: 0 %
- Declarable: no

## Where this code sits in the tariff

- 90 OPTICAL, PHOTOGRAPHIC, CINEMATOGRAPHIC, MEASURING, CHECKING, PRECISION, MEDICAL OR SURGICAL INSTRUMENTS AND APPARATUS; PARTS AND ACCESSORIES THEREOF
  - 9030 Oscilloscopes, spectrum analysers and other instruments and apparatus for measuring or checking electrical quantities, excluding meters of heading 9028; instruments and apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray, cosmic or other ionising radiation
    - 9030.82 For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
      - 9030.82.00 For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

## Duty rates and preferences

| Origin | Rate | Basis |
| --- | --- | --- |
| Third-country duty | 0 % | MFN |
| Faroe Islands | 0 % | Tariff preference |
| Melilla | 0 % | Tariff preference |
| Occupied palestinian Territory | 0 % | Tariff preference |
| Andorra | 0 % | Customs Union Duty |
| Türkiye | 0 % | Customs Union Duty |
| San Marino | 0 % | Customs Union Duty |
| EU-Switzerland agreement: re-imported goods | 0 % | Tariff preference |
| GSP-EBA (Special arrangement for the least-developed countries… | 0 % | Tariff preference |
| GSP+ (incentive arrangement for sustainable development and… | 0 % | Tariff preference |
| Moldova, Republic of | 0 % | Tariff preference |
| Ecuador | 0 % | Tariff preference |
| United Kingdom | 0 % | Tariff preference |

## Compliance regimes

- Dual-use (indicative correlation only, not a classification): 3A502, 3B002, 3B002

## Binding tariff information for this code

- **DEBTI51579/21-1** (DE): Sogenannte digitale Testkarte, im Wesentlichen bestehend mehreren mit aktiven und passiven Bauelementen und Speicherbauelementen bestückten Platinen, welche in einem Aluminiumrahmen mit elektrischen Kontakten und Kühlschläuchen montiert sind (siehe Abbildung in der Anlage). Innerhalb eines Testsystems (nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung) für anwendungsspezifische integrierte Schaltung (ASIC) und Prozessoren dient es im Rahmen von Testverfahren dem Vergleichen von Referenzspannungswerten in Volt, um so Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit dieser Bauelemente zu erhalten. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht.
- **DEBTI4477/21-1** (DE): Sogenannte digitale Testkarte, im Wesentlichen bestehend aus einer mit einem Testprozessor, einem Taktgeber und weiteren aktiven und passiven Bauelementen bestückten Platine mit 64 Messkanälen und den dazugehörenden Systemanschlüssen (siehe Abbildung in der Anlage). Innerhalb des Testsystems für Halbleiterbauelemente (nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung) dient es im Rahmen von analogen und digitalen Testverfahren dem zeitunabhängigen und zeitabhängigen Messen von Spannung und Stromstärke mit einer Genauigkeit von ± 1 mV und ± 12,5 µA. Diese werden nach dem Einspeisen von sogenannten elektronischen Prüfmustern mit vorgegebenen Werten verglichen, um so Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit dieser Bauelemente zu erhalten. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht.
- **FR-RTC-2016-000650** (FR): Testeur destiné au contrôle de la fiabilité et la qualité de disques "wafers" et de composants électroniques en boitiers, en réalisant des mesures de grandeurs électriques (tension, courant, fréquence, délais, capacité, impédance, résistance, inductance...) et en effectuant des programmes de test. Il permet le test en production de plus de 220 contacts numériques de composants dits “mixtes” comportant sur une même surface de silicium ("wafer") des éléments numériques microprocesseurs, mémoires, logique), des éléments analogiques (amplificateurs, filtres), des éléments numériques/analogiques ("mixed-signal"), des systèmes sur un seul composant ("SOC" - System-on-a-Chip) et des systèmes à plusieurs composants ("SIP" - System-in-Package). La fonction de test est centralisée dans la tête du testeur. Il est constitué d'une tête de test à refroidissement hybride (air et liquide), de 12 à 36 emplacements universels (dans la tête de test), d'une baie principale contenant les instruments pour effectuer des fonctions de test, d'un ordinateur pour stocker les résultats sous la forme de fichiers STDF, visualiser l'information et effectuer les programmes de test et d'un manipulateur de support de la tête de test. Fréquence de test : supérieure à 12GHz.
- **FR-RTC-2016-000646** (FR): Testeur destiné au contrôle de la fiabilité et la qualité de disques "wafers" et de composants électroniques en boitiers, en réalisant des mesures de grandeurs électriques (tension, courant, fréquence, délais, capacité, impédance, résistance, inductance...) et en effectuant des programmes de test. Il permet le test en production de composants dits “mixtes” comportant sur une même surface de silicium ("wafer") des éléments numériques (microprocesseurs, mémoires, logique), des éléments analogiques (amplificateurs, filtres), des éléments numériques/analogiques ("mixed-signal"), des systèmes sur un seul composant ("SOC" - System-on-a-Chip) et des systèmes à plusieurs composants ("SIP" - System-in-Package). La fonction de test est centralisée dans la tête du testeur. Il est constitué d'un châssis, d'une tête de test, d'une baie principale contenant les instruments pour effectuer les mesures, d'un ordinateur pour stocker les résultats sous la forme de fichiers STDF, visualiser l'information et effectuer les programmes de test et d'un manipulateur de support de la tête de test. Fréquence de test : de 100 à 200MHz.
- **FR-RTC-2016-000649** (FR): Testeur destiné au contrôle de la fiabilité et la qualité de disques "wafers" et de composants électroniques en boitiers, en réalisant des mesures de grandeurs électriques (tension, courant, fréquence, délais, capacité, impédance, résistance, inductance...) et en effectuant des programmes de test. Il permet le test en production de composants dits “mixtes” comportant sur une même surface de silicium ("wafer") des éléments numériques (microprocesseurs, mémoires, logique), des éléments analogiques (amplificateurs, filtres), des éléments numériques/analogiques ("mixed-signal"), des systèmes sur un seul composant ("SOC" - System-on-a-Chip) et des systèmes à plusieurs composants ("SIP" - System-in-Package). La fonction de test est centralisée dans la tête du testeur. Il est constitué d'un châssis, d'une tête de test avec circuit de refroidissement par air et de 12 emplacements universels ("slots"). Il est piloté par un ordinateur (fourni avec le testeur)qui stocke les résultats sous la forme de fichiers STDF. Fréquence de test : de 100 à 200MHz.
- **DE5994/17-1** (DE): Das Testsystem besteht im Wesentlichen aus einem "Mainframe Schrank" mit den Abmessungen von ca. 800 x 1050 x 1600 mm mit Spannungsversorgungseinheiten, einem Rechner (PC mit Bildschirm und Tastatur) zur Steuerung sowie weiterer Basisinstrumente und einem "Testhead" mit den Abmessungen von ca. 790 x 800 x 778 mm. Dieser ist flexibel auszurüsten mit verschiedenen Test- Modulen wie digitalen Modulen, analogen Modulen, Generator / Digitizer Modulen und HF-Modulen (nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung). Der "Testhead" (kennzeichnende Funktion) ist mit dem PC und dem "Mainframe Schrank" über Kabel verbunden und bilden somit eine funktionelle Einheit. Äußere Form: siehe Abbildung in der Anlage. Das System ist in der Lage Spannung, Stromstärke, Frequenz auch in Abhängigkeit von der Zeit zu messen, digitale Daten zu erzeugen und auszuwerten, AC-Signale zu generieren und abzutasten sowie RF-Signale zu erzeugen und auszuwerten. Das Gerät dient der Funktionsprüfung von Mikroprozessoren und -controllern, Analog- und Powerbausteinen, "Mixed Signal ICs", "System-on-chip ICs" sowie RF ICs. Dies erfolgt durch überwiegend anwenderspezifische Tests auf der Grundlage von analogen (zeitunabhängig) und digitalen (in Abhängigkeit von der Zeit) Messungen. Mit den digitalen Messungen werden die logischen Grundfunktionen der Bauelemente geprüft. Am Ende des Tests wird das Testobjekt als gut bzw. schlecht klassifiziert, d.h. die Bauelemente werden auf Fehlerfreiheit geprüft. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht.
- **DE703/17-1** (DE): Sog. Digitalinstrument, im Wesentlichen bestehend aus einer mit aktiven und passiven Bauelementen bestückten Platine mit vier Messkanälen und den dazugehörenden Systemanschlüssen. Äußere Form: siehe Abbildung in der Anlage. Innerhalb des Testsystems "T2000" (nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung) dient es im Rahmen von analogen und digitalen Testverfahren an Halbleiterbauelementen dem zeitunabhängigen und zeitabhängigen Messen von Spannung bis 85V. Diese werden mit vorgegebenen Werten verglichen (Soll-Ist-Vergleich), um so Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit (Logikanalyse) dieser Bauelemente zu erhalten. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht.
- **FR-RTC-2016-002605** (FR): Appareil de test des caractéristiques, de la fiabilité et de la qualité de composants électroniques de type disques ou dispositifs à semi-conducteurs, notamment des mémoires (Flash, RAM) et, pour certains modèles, des microcontrôleurs et processeurs. Il se compose d’une tête de test destinée à alimenter, stimuler et interfacer avec les composants testés, d’un ordinateur pour effectuer les programmes de test et visualiser les résultats, et un manipulateur de support de la tête de test permettant d’orienter celle-ci et de la faire entrer en contact avec les composants testés. Sa fréquence de fonctionnement maximale est de 400 MHz, et il dispose de 128 à 1280 canaux de digitaux.

## Notes that govern this classification

### Pos. 9030

Zu Unterposition 9030 82 00: Hierher gehören elektrische Testgeräte oder -systeme, die durch Messen oder Prüfen elektrischer Größen (z.B. Spannung, Frequenz) die Funktionsfähigkeit von Halbleiterscheiben (wafers), Chips oder anderen Halbleiterbauelementen feststellen und eventuelle Fehler (z.B. Abweichungen von vorgegebenen Werten) anzeigen. Diese Geräte oder Systeme bestehen meist aus einem Mess- und Prüfteil (mit Eingabetastatur, Programmspeicher und Datensichtgerät), der die Messung durchführt und das Ergebnis mit vorgegebenen Sollwerten vergleicht und anzeigt, einem Steuerungsteil (mit automatischer Datenverarbeitungsmaschine oder Mikroprozessoren), einem Drucker, der das Prüfungsergebnis ausdruckt und einer Vorrichtung, die die geprüften Teile nach bestimmten Istwerten sortiert und fehlerhafte Teile aussondert. …

### Pos. 9030

Zu Unterposition 9030 82: Hierher gehören auch Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Integrierten Schaltungen.

### Kapitel 90

1. Zu Kapitel 90 gehören nicht: a) Waren von der in Maschinen, Vorrichtungen oder für andere technische Zwecke verwendeten Art, aus Weichkautschuk (Position 4016), aus Leder oder rekonstituiertem Leder (Position 4204) oder aus Spinnstoffen (Position 5911) (RV E9001A00); b) Stützgürtel oder andere Stützvorrichtungen aus Spinnstoffen, deren Wirkung auf den Körperteil, der gestützt oder gehalten werden soll, sich ausschließlich aus ihrer Elastizität herleitet (z. B. …

## Subdivisions of this code

- 9030.82.00.00.0 andere Instrumente, Apparate und Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen

## Frequently asked questions

### What does customs tariff code 9030.82.00 cover?

Code 9030.82.00 covers For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits). Classification turns on the material, function, and intended use of the goods, not on their trade name.

### What is the duty rate for 9030.82.00?

The third-country duty rate for 9030.82.00 is 0 %. Goods originating in a country with a preferential agreement may qualify for a lower rate against valid proof of origin.

### What is the HS code for 9030.82.00?

The first six digits form the HS code: 903082. Those are uniform worldwide, while the further digits carry the EU Combined Nomenclature and the national subdivision.

### How many digits does 9030.82.00 have?

9030.82.00 has eight digits and matches the EU Combined Nomenclature. A German import declaration requires the eleven-digit commodity code.

### Where does 9030.82.00 sit in the tariff?

9030.82.00 sits in this hierarchy: 90 OPTICAL, PHOTOGRAPHIC, CINEMATOGRAPHIC, MEASURING, CHECKING, PRECISION, MEDICAL OR SURGICAL INSTRUMENTS AND APPARATUS; PARTS AND ACCESSORIES THEREOF > 9030 Oscilloscopes, spectrum analysers and other instruments and apparatus for measuring or checking electrical quantities, excluding meters of heading 9028; instruments and apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray, cosmic or other ionising radiation > 903082 For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits). The parent headings and their notes help decide whether the classification holds.

### Is there binding tariff information for 9030.82.00?

Yes. The EBTI database holds decisions on 9030.82.00, for example DEBTI51579/21-1. A BTI shows which product characteristics the customs authority relied on.

### What happens if the customs tariff code is wrong?

An incorrect code leads to post-clearance recovery of duty and import VAT, delays at clearance, and a penalty where it repeats. A classification with documented reasoning can be defended in an audit.

### Is 9030.82.00 a dual-use item?

The customs code alone does not decide that. An indicative correlation links 9030.82.00 to 3A502, 3B002, 3B002. Whether your item is listed depends on its technical parameters and has to be checked against the wording of the control list.

### Does customs tariff code 9030.82.00 change?

9030.82.00 is currently valid. The Combined Nomenclature is amended every 1 January, so master data should be checked against the current tariff annually.

Published by TC21 Ventures GmbH, Berlin. Derived from the Combined Nomenclature, TARIC, and the EBTI database. When citing, please link https://www.zolltarif-finder.de/en/customs-code/90308200.