# Customs tariff code 9030.82.00.00.0: For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated… > Customs tariff code 9030.82.00.00.0 covers For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits), andere Instrumente, Apparate und Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen. The third-country duty rate is 0 %, plus import VAT. - Source: https://www.zolltarif-finder.de/en/customs-code/90308200000 - Reference data as at: 2026-07-01 - Customs code: 9030.82.00.00.0 - Third-country duty: 0 % - Declarable: yes ## Where this code sits in the tariff - 90 OPTICAL, PHOTOGRAPHIC, CINEMATOGRAPHIC, MEASURING, CHECKING, PRECISION, MEDICAL OR SURGICAL INSTRUMENTS AND APPARATUS; PARTS AND ACCESSORIES THEREOF - 9030 Oscilloscopes, spectrum analysers and other instruments and apparatus for measuring or checking electrical quantities, excluding meters of heading 9028; instruments and apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray, cosmic or other ionising radiation - 9030.82 For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) - 9030.82.00.00.0 For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits), andere Instrumente, Apparate und Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen ## Duty rates and preferences | Origin | Rate | Basis | | --- | --- | --- | | Third-country duty | 0 % | MFN | | Faroe Islands | 0 % | Tariff preference | | Melilla | 0 % | Tariff preference | | Occupied palestinian Territory | 0 % | Tariff preference | | Andorra | 0 % | Customs Union Duty | | Türkiye | 0 % | Customs Union Duty | | San Marino | 0 % | Customs Union Duty | | EU-Switzerland agreement: re-imported goods | 0 % | Tariff preference | | GSP-EBA (Special arrangement for the least-developed countries… | 0 % | Tariff preference | | GSP+ (incentive arrangement for sustainable development and… | 0 % | Tariff preference | | Moldova, Republic of | 0 % | Tariff preference | | Ecuador | 0 % | Tariff preference | | United Kingdom | 0 % | Tariff preference | ## Compliance regimes - Dual-use (indicative correlation only, not a classification): 3A502, 3B002, 3B002 ## Binding tariff information for this code - **DE9539/13-1** (DE): Messgerät, "High Voltage Digital Pin Card (HVDP)", im Wesentlichen bestehend aus einer mit verschiedenen aktiven und passiven Bauelementen bestückten Leiterplatte, welche mit einer Schnittstelle zum Anschluss an den sog. Testhead des Test- und Prüfsystems "Synchro" versehen ist. Die HVDP übt die Funktionen "Drive", "Compare" und "Load" aus. Innerhalb des Testsytems dient sie im Rahmen von Funktionstest an Halbleiterbauelementen dem zeitabhängigen Zuführen und Anpassen ("Drive") eines Eingangssignals in Form einer definierten Spannung in Volt, dem zeitabhängigen Messen eines Ausgangssignals in einem Bereich von -2 bis +21 Volt (Logikanalyse) sowie dem Simulieren einer elektrischen Last ("Load"). Die Messwerte werden mit vordefinierten Parametern verglichen ("Compare"). Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. Abbildung: siehe Anlage - **DEB/2210/05-1** (DE): Gerät zum Prüfen von Halbleiterbauelementen, sog. ESD & Latch-Up Test System, im Wesentlichen bestehend aus Probenaufnahme sowie Mess- und Auswertetechnik in einem Gehäuse (äußere Form siehe Abbildung) Das Gerät prüft durch Messen elektrischer Größen (Strom, Spannung) Halbleiterbauelemente auf Fehler, insbesondere elektrostatische Entladung und Durchbruch (latch-up). - **DEB/1196/04-1** (DE): Gerät zum Messen elektrischer Größen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen, in Form einer zusammengesetzten Ware, sog. Waferinspektionssystem Phemos 1000, im Wesentlichen bestehend aus einem optischen Mikroskop einer Kamera, einem IR-Laser, einem Messsystem für elektrische Größen (Strom/Spannung) sowie Einrichtungen zum Positionieren und Beschalten der Wafer (Wafer-Prober, Spannungsversorgung) in einem gemeinsamen Gehäuse und einem PC. Beide Elemente sind über Leitung miteinander verbunden und stellen somit eine funktionelle Einheit dar. Mit dem Mikroskop wird die sog. Emissionsmikroskopie durchgeführt. Hierbei werden Defekte im Bereich von Transistoren und Dioden im IC anhand von Lichtemissionen beobachtet. Die Lichtemissionen an einem mit Spannung versorgten Bauelement deuten auf einen Fehler hin. Das Mikroskop bildet das Bild auf die sehr lichtempfindliche Kamera ab, die die Emissionsstrahlung aufzeichnet. Durch eine Bildbearbeitung wird dieses Bild dargestellt und kann dann ausgewertet werden. Beim sog. Laser Scanning-Verfahren wird mit einem IR-Laserstrahl über einen Schaltkreis gescannt. Durch die dadurch erzeugte Erwärmung verändern sich die physikalischen Parameter, wie z.B. der elektrische Widerstand eines Leiterzuges. Diese Widerstandsänderung ist als Spannungs-/Stromänderung messbar. Durch die sukzessive Überprüfung der Gesamtfläche eines IC können so Probleme an Kontaktstellen ermittelt werden. Keines der beiden Verfahren bestimmt zolltariflich den Charakter der Ware. ## Notes that govern this classification ### Pos. 9030 Zu Unterposition 9030 82 00: Hierher gehören elektrische Testgeräte oder -systeme, die durch Messen oder Prüfen elektrischer Größen (z.B. Spannung, Frequenz) die Funktionsfähigkeit von Halbleiterscheiben (wafers), Chips oder anderen Halbleiterbauelementen feststellen und eventuelle Fehler (z.B. Abweichungen von vorgegebenen Werten) anzeigen. Diese Geräte oder Systeme bestehen meist aus einem Mess- und Prüfteil (mit Eingabetastatur, Programmspeicher und Datensichtgerät), der die Messung durchführt und das Ergebnis mit vorgegebenen Sollwerten vergleicht und anzeigt, einem Steuerungsteil (mit automatischer Datenverarbeitungsmaschine oder Mikroprozessoren), einem Drucker, der das Prüfungsergebnis ausdruckt und einer Vorrichtung, die die geprüften Teile nach bestimmten Istwerten sortiert und fehlerhafte Teile aussondert. … ### Pos. 9030 Zu Unterposition 9030 82: Hierher gehören auch Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Integrierten Schaltungen. ### Kapitel 90 1. Zu Kapitel 90 gehören nicht: a) Waren von der in Maschinen, Vorrichtungen oder für andere technische Zwecke verwendeten Art, aus Weichkautschuk (Position 4016), aus Leder oder rekonstituiertem Leder (Position 4204) oder aus Spinnstoffen (Position 5911) (RV E9001A00); b) Stützgürtel oder andere Stützvorrichtungen aus Spinnstoffen, deren Wirkung auf den Körperteil, der gestützt oder gehalten werden soll, sich ausschließlich aus ihrer Elastizität herleitet (z. B. … ## Frequently asked questions ### What does customs tariff code 9030.82.00.00.0 cover? Code 9030.82.00.00.0 covers For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits), andere Instrumente, Apparate und Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen. Classification turns on the material, function, and intended use of the goods, not on their trade name. ### What is the duty rate for 9030.82.00.00.0? The third-country duty rate for 9030.82.00.00.0 is 0 %. Goods originating in a country with a preferential agreement may qualify for a lower rate against valid proof of origin. ### What is the HS code for 9030.82.00.00.0? The first six digits form the HS code: 903082. Those are uniform worldwide, while the further digits carry the EU Combined Nomenclature and the national subdivision. ### How many digits does 9030.82.00.00.0 have? 9030.82.00.00.0 has eleven digits and is the full German commodity code used on an import declaration. A German import declaration requires the eleven-digit commodity code. ### Where does 9030.82.00.00.0 sit in the tariff? 9030.82.00.00.0 sits in this hierarchy: 90 OPTICAL, PHOTOGRAPHIC, CINEMATOGRAPHIC, MEASURING, CHECKING, PRECISION, MEDICAL OR SURGICAL INSTRUMENTS AND APPARATUS; PARTS AND ACCESSORIES THEREOF > 9030 Oscilloscopes, spectrum analysers and other instruments and apparatus for measuring or checking electrical quantities, excluding meters of heading 9028; instruments and apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray, cosmic or other ionising radiation > 903082 For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits). The parent headings and their notes help decide whether the classification holds. ### Is there binding tariff information for 9030.82.00.00.0? Yes. The EBTI database holds decisions on 9030.82.00.00.0, for example DE9539/13-1. A BTI shows which product characteristics the customs authority relied on. ### What happens if the customs tariff code is wrong? An incorrect code leads to post-clearance recovery of duty and import VAT, delays at clearance, and a penalty where it repeats. A classification with documented reasoning can be defended in an audit. ### Is 9030.82.00.00.0 a dual-use item? The customs code alone does not decide that. An indicative correlation links 9030.82.00.00.0 to 3A502, 3B002, 3B002. Whether your item is listed depends on its technical parameters and has to be checked against the wording of the control list. ### Does customs tariff code 9030.82.00.00.0 change? 9030.82.00.00.0 is currently valid. The Combined Nomenclature is amended every 1 January, so master data should be checked against the current tariff annually. Published by TC21 Ventures GmbH, Berlin. Derived from the Combined Nomenclature, TARIC, and the EBTI database. When citing, please link https://www.zolltarif-finder.de/en/customs-code/90308200000.