Customs tariff code 9012.90.00: Parts and accessories

Een vacuümkamer van een scanning elektronenmicroscoop (SEM) met -volgens opgave- onder andere de volgende samenstelling en kenmerken: - onderdeel van een specifiek merk scanning elektronenmicroscoop; - het is de centrale ruimte waarin monsters worden geplaatst voor analyse onder hoge vacuümomstandigheden; - voor het creëren van vacuümomgeving voor elektronenbundel en monster; - vervaardigd van een legering van aluminium/staal; - in de vorm van een op maatgemaakte aan 1 zijde afgeplatte cilinder met diverse uitsparingen en bevestigingsvoorzieningen; - is compatibel met diverse optionele modules zoals detectors en monsterhouders; - functioneert niet zelfstandig; - een gewicht van 156,4 kg.

Erkennbarer Teil eines Mikroskopes in Form eines Cantilevers - bestehend aus einem mehrfach beschichteten Siliziumsubstratplättchen, einer Biegefeder mit Reflexionsfläche und einem Taststift, - dient als Messnadel eines Rasterkraftmikroskops (AFM). (Abbildung siehe Anlage)

So genannte piezokeramische Röhren/Hülsen, im Wesentlichen bestehend aus nach speziellen Maßen gefertigten Röhren und Hülsen aus Blei-Titanat-Zirkonat (zur äußeren Form siehe Abbildung in der Anlage) mit speziellen Einkerbungen und Aussparungen; ohne Elektroden oder elektrische Anschlüsse. Sie dienen zur Positionierung des Scanning Probe Sensors eines Rastertunnelmikroskops (RTM oder STM). Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich bestimmt für andere als optische (hier: Elektronen-)Mikroskope bestimmt" eingereiht.

"Strahlführungsrohr / Baugruppe zur Laserstrahlführung für das Elektronenmikroskop (engl. Liner tube assy)", in Form eines zusammengeschraubten Rohrs mit flanschförmiger Ausprägung an einem Ende, bestehend aus drei Niro-Teilen (X2CrNiMoN18-14-3) und einem O-Ring aus Viton, ein Blendenhalter und der O-Ring sind innen verbaut Die Baugruppe "Strahlführungsrohr" ist ein zusammengesetztes Vakuumrohr mit der Möglichkeit, eine Blende einzusetzen. Es dient zur Führung und Formung des Elektronenstrahls im Vakuum und ist im Elektronenmikroskop verbaut. Zur Ansicht siehe Zeichnung in Anlage. Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich für ein anderes als ein optisches Mikroskop (hier: Elektronenmikroskop) bestimmt" eingereiht.

Partie d'un microscope électronique appelée source d'électron, contenant une pointe en tungstène et un dispositif de focalisation.

So genannte piezokeramische Röhren/Hülsen, im Wesentlichen bestehend aus nach speziellen Maßen gefertigten Röhren und Hülsen aus Blei-Titanat-Zirkonat (zur äußeren Form siehe Abbildung in der Anlage) mit speziellen Einkerbungen und Aussparungen; ohne Elektroden oder elektrische Anschlüsse. Sie dienen zur Positionierung des Scanning Probe Sensors eines Rastertunnelmikroskops (RTM oder STM). Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich bestimmt für andere als optische (hier: Elektronen-)Mikroskope bestimmt" eingereiht.

So genannter Rasterkraftmikroskop (AFM) - Messkopf, im Wesentlichem bestehend aus einem Modul zur Messung der Auslenkung einer Messnadel (sog. Cantilever) mit Hilfe eines von außen eingekoppelten Laserstrahls (Messnadel und Laser sind nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung) und einer X, Y, Z- Scaneinheit zur dreidimensionalen Bewegung des o.g. Moduls in einer gemeinsamen Aufnahme aus Aluminium (Außenmaße ca.: 25 x 18 cm). Der Messkopf stellt sich als Teil eines so genannten SPM-Moduls (Rastersondenmikroskop / Rasterkraftmikroskop) dar; dieses Modul besteht aus einem Cantilever, einem Cantileverhalter, einem Laser, einer Elektronik, einer optischen Beobachtung, die alle nicht Gegenstand dieser vZTA-Entscheidung sind, und dem Messkopf. Mit dem SPM-Modul wird die Topographie der Oberfläche von Proben gemessen. Das SPM-Modul stellt sich im weiteren als Zubehör (Anmerkung 2a) zu Kapitel 90) für ein Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometer dar. Der Messkopf dient der Erfassung der Auslenkung des Cantilevers während der Vermessung der Probe. Die Ware wird eingereiht als "Teil, erkennbar hauptsächlich für ein nicht optisches Mikroskop (AFM - Rasterkraftmikroskop)".