Customs tariff code 9030.82.00.00: For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated…

Sog. Messgeräte für Halbleiterscheiben (Wafers), in Form funktioneller Einheiten, im Wesentlichen jeweils bestehend aus einem Messgerät, welches über Kabel mit einem PC (teilweise mit Monitor und Drucker) zur Steuerung, Darstellung, Auswertung und Speicherung der Messwerte verbunden ist (siehe beispielhafte Abbildungen in der Anlage). Die Messgeräte setzen sich aus einem Gehäuse mit einer Aufnahmevorrichtung für die Halbleiterscheiben sowie der notwendigen Messtechnik zusammen. Sie dienen der Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes in Ohm (Schicht- oder Flächenwiderstand) der leitfähigen oder isolierenden Schichten auf Halbleiterscheiben (Wafers). Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen (Widerstand), kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)" eingereiht.

Messgeräte für Halbleiterscheiben (Wafers) in Form funktioneller Einheiten, im Wesentlichen jeweils bestehend aus einem Messgerät, welches über Kabel mit einem PC (teilweise mit Monitor und Drucker) zur Steuerung, Darstellung, Auswertung und Speicherung der Messwerte verbunden ist (siehe beispielhafte Abbildungen in der Anlage). Die Messgeräte setzen sich aus einem Gehäuse mit einer Aufnahmevorrichtung für die Halbleiterscheiben sowie der notwendigen Messtechnik zusammen. Sie dienen der Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes in Ohm (Schicht- oder Flächenwiderstand) der leitfähigen oder isolierenden Schichten auf Halbleiterscheiben (Wafers). Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen (Widerstand), kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)" eingereiht.

Halbautomatisches Testsystem für sog. Wafer in Form einer kombinierten Maschine im Wesentlichen bestehend aus einem gemeinsamen Gehäuse (Abmessungen ohne Tisch ca. 82,5 x 76,2 x 36,8 cm, Gewicht 182 kg) mit einer Probenkammer mit einer Temperiervorrichtung, einer XYZ-Waferhalterung, einem optoelektronischen Mikroskop zur besseren Navigation auf dem Wafer, zwei LCD-Monitoren, Messspitzen sowie einer Mess- und Steuerelektronik (siehe Abbildung in der Anlage). Das System dient dem Messen von verschiedenen elektrischen Parametern wie Spannung in V und Stromstärke in A (kennzeichnende Haupttätigkeit) an elektronischen integrierten Schaltungen auf der Waferebene. Die Messungen können unter verschiedenen Temperaturbedingungen (-60 - 300°C) durchgeführt werden. Das System ist für Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm geeignet. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als von den Unterpositionen (HS) 9030 10 bis 9030 40 erfasst, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht.

Digitalinstrument, im Wesentlichen bestehend aus einer mit aktiven und passiven elektronischen Bauelementen bestückten Leiterplatte mit 64 Kanälen mit einer Datenrate von bis zu 4 Gigabit pro Sekunde. Innerhalb eines modularen Testsystems für Halbleiterbauelemente (nicht Gegenstand dieser vZTA) dient es im Rahmen von analogen und digitalen Testverfahren an den Bauelementen, dem zeitunabhängigen und zeitabhängigen Messen von Spannung (-5,0 V - + 8.0 V) und Stromstärke (±20 mA, .±60 mA, ±2 mA, ±200 µA, ±20 µA, ±5 µA). Diese werden mit vorgegebenen Werten (Soll-Ist-Vergleich) verglichen, um so Rückschlüsse auf die Funktionsfähigkeit (Logikanalyse) dieser Bauelemente zu erhalten. Über die Karte können sog. Pattern (Prüfmuster) in die Bauelemente eingespeist werden. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht.

System zum Messen oder Prüfen von Halbleiterbauelementen, im Wesentlichen bestehend aus einer Messeinheit mit magnetischen Messsensoren und einem verfahrbaren Probenträger sowie einer Steuer- und Auswerteeinheit mit PC und Steuervorrichtung, durch elektrische Kabel verbunden (funktionelle Einheit). Das Gerät misst die magnetischen Felder von elektrisch aktiven Halbleiterbauelementen und berechnet die Stromdichte. Diese Messergebnisse dienen der Auffindung von Fertigungsfehlern in den Bauelementen. Die Ware wird als "Gerät zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen, kein Zähler der Position 9028, anderes als Unterposition (HS) 9030 10 bis 9030 40, als Gerät zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen" eingereiht. Abbildung: siehe Anlage

HIGH PERFORMANCE FIELD PROGRAMMABLE GATE ARRAY (FPGA) BOARD USED IN THE ELECTRICAL TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICES. THE FPGA BOARD CAN ACCOMMODATE UP TO 18 MILLION APPLICATION SPECIFIC INTEGRATED CIRCUIT GATES, CUSTOMISED FOR THE SPECIFIC USE OF ELECTRICAL MEASURING AND CHECKING OF SEMICONDUCTOR DEVICES PRIOR TO MANUFACTURING. THE PRODUCT INCORPORATES FULL SYSTEM INTEGRATION AND TESTING OF ALL HARDWARE AND SOFTWARE AND ALSO ENABLES EARLY IDENTIFICATION AND ELIMINATION OF HARDWARE AND SOFTWARE BUGS AHEAD OF SILICON AVAILABILITY.

Półautomatyczna stacja typu Summit 12000B-M, służąca do pomiarów parametrów elektrycznych przyrządów półprzewodnikowych, będących w postaci gotowej struktury na "waflu" o maksymalnej średnicy 200 mm, jak również pojedynczych układów, o minimalnym wymiarze 10 x 10 mm, utrzymywanych podciśnieniowo na stoliku pomiarowym. W zależności od użytego sprzętu pomiarowego (nie będącego przedmiotem niniejszej decyzji) można przeprowadzić pomiary chrakterystyk prądowo-napięciowych, pojemnościowo-napięciowych lub częstotliwościowych diod, tranzystorów itp., zarówno w temperaturze otoczenia, jak i w zakresie temperatur od -60 do 300°C. Ze względu na bardzo małe rozmiary pojedynczej mierzonej struktury, do właściwego pozycjonowania sond pomiarowych i ustawienia "wafla", stosowany jest mikroskop optyczny z wizualizacją obrazu na monitorach. Stacja składa się z następujących elementów:stolika pomiarowego, sterownika stacji oraz systemu wizyjnego eVue, zestawu mocowania monitorów LCD, monitorów LCD 24", adaptera do mocowania mikroskopu, mikroskopu eVue-III, obiektywu Mitutoyo, pozycjonerów do montażu sond pomiarowych z mocowaniem magnetycznym, sond pomiarowych, wolframowych igieł pomiarowych (prostych i zagiętych), przewodów do podłączenia sond pomiarowych, uchwytu kart pomiarowych, stołu antywibracyjnego z zestawem wsporników do klawiatury, myszki i elementów sterowania oraz pompy podciśnieniowej.

A termék gyújtótekercs összeszerelő gép tartozéka, amely a gyújtótekercsben lévő dióda (félvezető eszköz) polaritását ellenőrzi. Az induktivitás és ellenállás mérés (L1; R1) villamos úton mérőtűkkel történik. A mért paraméterek értékelését követően az eszköz által biztosított jelnek megfelelően az ellenőrzött gyújtótekercs a „jó” vagy a „rossz” továbbító szalagra kerül. A műszer a gyújtótekercs gyártása során az utolsó ellenőrzési műveletet (villamos mennyiségek mérését) végzi el a már összeszerelt tekercsen.